TSI1NM掃描電遷移粒徑譜儀特點與優勢快速獲得粒徑和數量濃度的高分辨率數據優化使擴散損失最小1至50nm間>109個通道配合3081A長DMA差分靜電遷移分析儀使用，可測量從1nm到1μm3個粒徑數量級的粒子模塊化組件設計，可以根據用戶測量需求定制，例如單獨使用1nmCPC等。內置診斷和自動檢測系統組件，可以獲得可靠和可重復的測量數據。易于安裝和使用的氣溶膠儀器管理器（AIM）軟件。多功能的粒子測量方式：適用于多模樣品。 TSI1NM掃描電遷移粒徑譜儀產品詳情1納米SMPS系統結合了TSI在粒子分級和計數方面的傳統優勢，并采用了能夠測量小于1納米粒子的新技術。優化后的3086型差分靜電遷移分析儀能夠進一步降低了這些微小粒子的擴散損失。3757型納米增強儀介于DMA和標準CPC之間，采用二甘醇對1納米粒子預生長，進而實現CPC檢測。新的納米增強儀設計加強了CPC與納米增強儀的集成性，使系統的設置和使用更加容易。研究人員通過使用這些儀器，可以將粒子研究推向令人興奮的新領域。關鍵應用包括：大氣研究 -監測新的粒子形成和動力學、云凝聚，并縮小質譜儀與常規粒子粒徑分布測量之間的差距。非常適合高污染城市中的亞3nm粒子和粒子源研究以及健康影響因素研究材料科學 -系統可以可靠的近實時反饋監測和表征亞3nm粒子，非常適合基于氣溶膠的工程納米粒子合成、納米粒子功能化、納米分析化學、反應動力學控制和催化劑合成。1nmSMPS不僅僅是能觀察1nm以上成核的檢測器，還是全面的粒子光譜儀，能夠以極高的分辨率顯示了這些事件中的粒徑分布情況。組件的模塊化非常便于用戶根據測量需求定制系統：節省您的時間和金錢。如果您已經擁有一套配備了3750型CPC的3938系列SMPS系統，您只需再增加一臺1NMDMA差分靜電遷移分析儀和納米增強儀，無需調整您的分級器和高級中和器，且您將免費更新到最新版本的AIM軟件。 TSI1NM掃描電遷移粒徑譜儀應用基礎氣溶膠研究通過粒子源（如火焰合成、激光燒蝕、火花產生和成核/凝結）研究粒子成核和粒子生長。燃燒和發動機排氣研究（有機燃料、低于3nm的排放、天然氣發動機、塑料成型和焊接過濾研究吸入或暴露室研究*健康影響因素研究*功能和優點中的介紹基于下列假設：SMPS光譜儀包含3082型分級器、1nmDMA差分靜電遷移分析儀、3757型納米增強儀和3750型凝聚核粒子計數器等組件。