鍍層膜厚測試儀采用獨一無二的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準并保證一定測量精度的情況下測量復雜的鍍層系統，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM? V.6軟件）.

鍍層膜厚測試儀的特點:
X射線激發系統  垂直上照式X射線光學系統  
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗  
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等  
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準       75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選  
裝備有安全防射線光閘  
精度高、穩定性好
強大的數據統計、處理功能 
測量范圍寬 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選  
準直器程控交換系統  最多可同時裝配4種規格的準直器  
多種規格尺寸準直器任選： －圓形，如0.1、0.2、0.3等 －方形，如0.05*0.05   －長方形0.3*0.05，0.03*0.2等  

鍍層膜厚測試儀的配制:X射線管(鎢管)、微焦距，可加NI和AL濾片，高讀數氙氣體比例接收器，另銅層膜厚分析儀，配有四個準值器和可操控的手動測量臺，使用方便、簡單。

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