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[供應(yīng)]HIC測試GB/T8650
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：無錫
- 產(chǎn)品品牌：容大
- 包裝規(guī)格：GB/T 8650-2006
- 產(chǎn)品數(shù)量：1
- 計量單位：樣
- 產(chǎn)品單價：1
- 更新日期：2020-09-03 00:14:29
- 有效期至：2021-09-03
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HIC測試GB/T8650
詳細信息
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QQ：1318861383
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SSC：NACETM0177-2005；GB/T4157-2006。
HIC：NACETM0284-2011；GB/T8650-2006。
測試氫脆的方法有好幾種，常用的有往復(fù)彎曲試驗和延遲破壞試驗。
(1)往復(fù)彎曲試驗往復(fù)彎曲試驗對低脆性材料比較靈敏，可以用來對不同基體材料在經(jīng)過相同的電鍍工藝處理后的氫脆程度進行比較，也可以對相同的基體材料上的不同電鍍工藝的氫脆程度進行比較。這種試驗的方法是取一個待測試片，其尺寸規(guī)格為：150mm×l3mm×l.5mm，表面粗糙度Ra=1.6。對試片進行熱處理使之達到規(guī)定的硬度，然后用往復(fù)彎曲機讓試片在一定直徑的軸上以一定的速度進行緩慢的彎曲試驗，直至試片斷裂。彎曲方式有90。往復(fù)彎曲和l80。單面彎曲兩種，以前一種方式應(yīng)用較多，彎曲的速度是0．6.／s。如果是單面彎曲則所取的速度則為0．13。／s。評價的方法是將彎曲試驗至斷裂時的次數(shù)乘以角度，以獲得彎曲角度的總和，其角度總值越大，氫脆越小。
測試時要注意以下幾點。
①試片在進行熱處理后如果有變形，應(yīng)靜壓校平，不可以敲打校正，否則會使試片的內(nèi)應(yīng)力增加，影響試驗結(jié)果。
②為了防止應(yīng)力影響，電鍍前應(yīng)進行去應(yīng)力，在電鍍后則要進行除氫處理，這時檢測的是殘余氫脆的影響。
③彎曲試驗時所用的軸的直徑的選用很重要，因為評價這種試驗結(jié)果的量化指標與軸徑有關(guān)，對于小的軸徑，則彎曲至斷裂的次數(shù)就會少一些，具體選用什么軸徑要通過對基體材料的空白試驗來確定，并且在提供數(shù)據(jù)時要指明所用的軸徑，否則參數(shù)沒有可比性。
(2)延遲破壞試驗延遲破壞試驗是一種靈敏度較高的試驗方法，適合用于高強度鋼制品的氫脆檢測。這種氫脆測試也是在試驗機上進行的，所用的試驗機為持久強度試驗機或蠕變試驗機，檢測試樣在這種試驗機上受到小于破壞程度的應(yīng)力的作用，觀測其直到斷裂時的時間。如果到規(guī)定的時間尚沒有發(fā)生斷裂，即為合格。這種試驗需要采用按一定要求制作的標準的測試驗棒。并且每次要使用三支同樣條件的試樣平行做試驗，以使結(jié)果更為可信。
氫脆試樣棒示意其中關(guān)鍵位就是處于試樣中間軸徑最小的地方(直徑4．5mm士0．05mm)。如果有較為嚴重的氫脆，斷裂就從此處發(fā)生。試樣應(yīng)先退火后再經(jīng)車工加工為接近規(guī)定尺寸的初件，經(jīng)熱處理達到規(guī)定的抗拉強度后，再加工到精確尺寸。試樣在電鍍前要消除應(yīng)力，其工藝與電鍍件的真實電鍍過程相同。鍍層的厚度要求在12μm左右。試驗所用的負荷是進行空白測試時的75％。如果經(jīng)過200h仍不斷裂，即為合格。
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