晶體管圖示儀 XJ4810 / XJ4810A
產地: 上海
尺寸: 32×22×40cm
重量: 17kg

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XJ4810型/XJ4810A型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并測量其靜態參數。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電極掃描電路，可以對被測半導體器件的特司長進行對比分析，便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性；可對場效應管進行配對或對管測試；可測試三端穩壓管特性。

集電極掃描信號

輸出電壓范圍及電流容量 
0～5V 10A（XJ4810A） 0～10V 5A 
0～50V 1A 0～100V 0.5A 
0～500V 0.1A     
基極階梯信號 
階梯電流 0.2μA/級～50mA/級，分17檔(XJ4810) 
  0.2μA/級～100mA/級，分18檔(XJ4810A) 
階梯電壓 0.05V級～1V/級，分5檔(XJ4810) 
  0.1V級～2V/級，分5檔(XJ4810A) 
Y軸偏轉系數 
集電極電流 10μA/div～0.5A/div，分15檔(XJ4810) 
  10μA/div～1A/div，分16檔(XJ4810A) 
二極管電流 0.2μA/div～5μA/div，分5檔 
倍率 ×0.1 
X軸偏轉系數 
集電極電壓 0.05V/div～50V/div，分10檔 
基極電壓 0.05V/div～1V/div，分5檔 
二族顯示  二簇曲線左右分列顯示并可左右位移 
一般性能 
適應電源 AC220V±10% 50Hz±4% 
視在功率 約50VA（非測試狀態）約80VA(最大功率) 

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XJ4810
XJ-4810型半導體特性圖示儀，是一種用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并可測量其靜態參數的測試儀器。

1.1 本儀器主要由以下幾個部分組成：

1.1.1 Y軸放大器及X軸放大器。

1.1.2 階梯信號發生器

1.1.3 集電極掃描發生器

1.1.4 主電源及高壓電源部分

1.2 本儀器是繼JT-1后的開發產品，它除了繼承JT-1的優點外，作了較大改進與提 高，它與其他半導體管特性圖示儀相比，具有以下特點：

1.2.1 本儀器采用全晶體管化電路、尺寸小、重量輕。

1.2.2 增設集電極雙向掃描電路及裝置，能同時觀察二極管的正反向輸出特性曲線、簡化測試手續。

1.2.3 配有雙簇曲線顯示電路，對于中小功率晶體管各種參數的配對，尤為方便。

1.2.4 本儀器專為工作于小電流超b晶體管測試作了提高，最小階梯電流可達0.2μA/級

1.2.5 本儀器還專為測試二極管的反向漏電流采取了適當措施，使測試的IR達20nA/div。

1.2.6 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27100場效應管配對測試臺可對國內外各種場效應對管和單管進行比較測試。

1.2.7 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27101數字集成電路電壓傳輸特性測試臺，可測試CMOS，TTL數字集成電路的電壓傳輸特性。

主要技術指標

2.1 Y軸偏轉因數

集電極電流范圍（Ic）10μA/div-0.5A/div 分15檔，誤差不超過±3%。

二極管反向漏電流（IR）0.2μA/div-5μA/div 分5檔。

2μA/div-5μA/div 誤差不超過±3%。

0.2μA/div、0.5μA/div、1μA/div 誤差分別不超過±20%、±10、±5%

基極電流或基極源電壓 0.05V/div 誤差不超過±3%。

外接輸入 0.05V/div 誤差不超過±3%。

偏轉倍率 ×0.1 誤差不超過±（10%+10nA）。

2.2 X軸偏轉因數

集電極電壓范圍 0.05V/div—50V/div 分10檔 誤差不超過±3%。

基