性能特點 1. 使用一體化微型端窗X光管，大面積Si-PIN探測器，具有高信噪比的電子線路單元，使儀器具有與臺式X熒光光譜儀相當的測試性能； 2. 樣品腔為封閉圓形結構，具有良好的射線屏蔽性能； 3．四組可方便切換的濾光片，使儀器不論全元素分析還是ROHS檢測，對應各種基材測量不同的元素，都能得到理想的效果； 4．主機使用PDA掌上電腦，使用無線藍牙連接，輕巧方便，測試數據盡在掌中； 5. 包裝箱與儀器一體化設計，緊固防水，對惡劣野外環境也能應付自如； 6. 大容量鋰電池供電，儀器可獨立工作足夠長時間，也使用交流轉直流適配器，連接交流電源工作。 技術指標 元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。 分析含量一般為ppm到99.9％。 可測試鍍層厚度最薄至0.05um。 任意多個可選擇的分析和識別模型。 相互獨立的基體效應校正模型。 多變量非線性回歸程序。 多次測量重復性可達0.1％。 長期工作穩定性為0.1％。 標準配置 與儀器一體化設計的包裝箱。 四組可切換濾光片。 激光定位裝置。 帶鉛屏蔽罩封閉樣品腔。 SI-PIN探測器。 信號檢測電子電路。 一體化微型端窗X光管。 無線藍牙連接PDA掌上電腦。 自帶充電電路的大容量鋰電池和交流轉直流適配器。 外觀尺寸： 359??247??173 mm（帶箱） 315??188??129 mm（不帶箱） 樣品腔尺寸：137??122??35 mm 重量：9Kg 應用領域 水文調查 鍍層測定 鍍液分析 地質探礦 考古研究 聯系人 區經理 電話 13823581593 QQ 2868059266 地址 深圳市福田區八卦三路88號榮生大廈702室 固定電話：0755-25870896 網址 www.ges-tech.cn