界面針／定位針／ＢＧＡ針／直鋼針／絕緣針／離子針／微型探針探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為： Ａ、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；　　　 Ｂ、在線測(cè)試探針：ＰＣＢ線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；　　　 Ｃ、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片ＩＣ檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。　　 　探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。　　　 懸臂探針：劈刀型（Ｂｌａｄｅ　Ｔｙｐｅ）和環(huán)氧樹脂型（Ｅｐｏｘｙ　Ｔｙｐｅ）　　　 垂直探針：垂直型（Ｖｅｒｔｉｃａｌ　Ｔｙｐｅ）　　　 １．ＩＣＴ探針　（ＩＣＴ　ｓｅｒｉｅｓ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　 一般直徑在２．５４ｍｍ－１．２７ｍｍ之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼１００ｍｉｌ，７５ｍｉｌ，５０ｍｉｌ，還有更特別的直徑只有０．１９ｍｍ，主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試． 也稱ＩＣＴ測(cè)試和ＦＣＴ測(cè)試．也是目前應(yīng)用較多的一種探針．　　　 ２．界面探針（Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　 非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)（Ｔｅｒａｄｙｎｅ）和安捷倫（Ａｇｉｌｅｎｔ）．用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面．　　　 ３．微型探針（ＭｉｃｒｏＳｅｒｉｅｓ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為０．２５ｍｍ至０．７６ｍｍ．　　　 ４．開關(guān)探針（Ｓｗｉｔｃｈ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　開關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流．　　 ５．高頻探針（Ｃｏａｘｉａｌ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試１０ＧＨｚ以內(nèi)的和５００ＭＨｚ不帶屏蔽圈的．　　 ６．旋轉(zhuǎn)探針（Ｒｏｔａｔｏｒ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng)，一般用于ＯＳＰ處理過的ＰＣＢＡ測(cè)試．　　　 ７．高電流探針（Ｈｉｇｈ　Ｃｕｒｒｅｎｔ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　探針直徑在２．５４ｍｍ－４．７５ｍｍ之間測(cè)試電流可達(dá)３９ａｍｐｓ．　　 ８．半導(dǎo)體探針　（Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　直徑一般在０．５０ｍｍ－１．２７ｍｍ之間．帶寬大于１０ＧＨｚ，５０Ω　ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃ　　 ９．電池接觸探針　（Ｂａｔｔｅｒｙ　ａｎｄ　Ｃｏｎｎｅｃｔｏｒ　Ｃｏｎｔａｃｔｓ）　　　一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng)．　　 　除以上類型外還有溫度探針，Ｋｅｌｖｉｎ探針等，比較少用