供應真空型RoHS鹵素檢測X熒光光譜儀納優NaU-E700


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NaU-E700
 精準實驗類EDXRF      真空型：RoHS與無鹵分析檢測
 
 品牌 納優 型號 NaU-E700
光源 X射線發生器 波長范圍 110—900（nm） 
焦距 750（mm）  外形尺寸 850*510*410（mm） 
重量 76（Kg）  適用范圍 RoHS檢測、無鹵分析、多元素分析、金屬電鍍層測厚

納優科技NaU-E700型X熒光光譜儀技術參數：

測試對象：粉未、固體、液體
分析元素范圍：Na-U
測試時間：100-200s
管壓：10KV-50KV
管流：50uA-1000uA
最佳分辨率：149±5eV
最低檢出限： Cd/Cr/Hg/Br≤2ppmPb≤5ppmCl≤30ppm
輸入電源 ： AC 220V±10%,50Hz (建議配置凈化穩壓電源)
額定功率：300W
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：30%-80%
樣品腔尺寸：Ф260mm*36mm/Ф180mm*50mm
外形尺寸：850mm*510mm*410mm
重量：76Kg

納優科技NaU-E700型X熒光光譜儀配置明細：

X熒光光譜儀專用光管
高分辨率電制冷半導體探測器
鹵素專用測試系統
多道分析器
高精可控真空泵
真空樣品腔
TCF投射系統
SSD光路
增益放大器
零至滿量程可調諧式高壓電源
光管散熱系統（專利技術）
光路優化系統
復合濾光處理系統
內置高清晰CCD攝像頭
自動切換準直器和濾光片（專利技術）
全自動定位測試系統
樣品倉自動開關裝置
三重安全保護模式
標樣
計算機
打印機

*概述：
NaU-E系列能量色散X射線熒光光譜儀是納優科技（北京）有限公司研發團隊30多年X熒光分析領域技術沉淀及理念革新的力作，其技術源于納優科技公司研發團隊于2008年7月承接的“十一五”國家科技支撐計劃項目——綠色制造關鍵技術與裝備（*注1），系列產品均滿足中華人民共和國工業和信息化產業部于2009年7月3日頒布的《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規范》（*注2），是迄今為止唯一獲得由工業和信息化部電子信息產品污染控制技術促進中心、中國合格評定國家認可委員會、中國電子技術標準化研究所以及賽西實驗室等聯合頒發的檢測報告暨儀器檢測鑒定證書（*注3）的X熒光光譜儀產品。其中，最具代表性意義的為NaU-E600及NaU-E800型EDXRF，前者是業界首款實現RoHS及鹵素（著重于氯元素的檢出和測試）一體化測試的新型能量色散X射線熒光光譜儀；后者的研制成功，標志著國內X熒光光譜儀制造企業完全掌握了偏振二次靶X熒光光譜儀的研發、生產工藝技術，打破美、日、德、英等發達國家對中國企業在該領域近20年的技術封鎖和壟斷。二者的成功面市，是納優科技公司從以往“量”性市場策略邁向“質”性產品戰略的轉折點，此外，產品的簡練外觀設計及注重配置性能等特點也很好地體現了這一點！
隨著全球各經濟共同體以及越來越多的國家出臺眾多環保管控舉措，納優科技公司與各受限企業面臨同樣的壓力！正是這種壓力，使得納優科技研發團隊重新整合相關資源，攻克重重難關，研制出NDA系列能量色散X射線熒光光譜儀，與各受限企業共同應對日益嚴格的環保限令管控。

*注1：項目課題：出口機電產品國際綠色貿易壁壘應對技術及應用；子課題：支持RoHS指令的新型X熒光分析儀開發與企業應用；項目組織單位：中國機械工業聯合會；課題負責人：楊李鋒（納優科技公司總經理）。


*注2：《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規范》為全球范圍內首部用于評價能量色散X熒光光譜儀的性能的參照范本，其中包括：安全性能、儀器硬件基本性能指標及分析方法配置、精密度指標測試、準確度指標測試、典型材料（聚合物、金屬等）中各種有害元素的檢出限、儀器對不同基體材料測量的適應性和擴展性及其它性能參數等測試項目以及儀器性能評價步驟等，對于X熒光光譜儀生產廠家和購買儀器的用戶均有實際參考指導意義。

*注3：該檢測必須“一機一檢”，其檢測內容、方法及步驟等均以《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規范》（見注2）為準。檢測報告也稱儀器檢測鑒定證書，該證書最大的特點就是“唯一性”，一機一證，證書封頁注明儀器出廠編號、檢測報告編號的同時，需蓋有檢測執行單位賽西實驗室的試驗報告專用章、中國合格評定國家認可委員會檢測專用章、MAC及MRA檢測專用章；證書第一頁蓋有賽西實驗室的試驗報告專用章；整份證書需蓋有賽西實驗室矩形騎縫章印。

納優產品保證 
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確保產品通過國際CE認證、輻射防護符合國家標準 
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納優科技制造的每臺儀器均持有工業和信息化部電子信息產品污染控制技術促進中心頒發的檢測鑒定認可證書
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保證納優科技的XRF產品符合China RoHS認證和3C強制認證的技術要求，可免除企業對XRF儀器進行國家認證許可的成