產品名稱：CMI900-鍍層測厚儀   服務熱線：13712542526

 電鍍層測厚儀，鍍層測厚儀，鎳層測厚儀，元素分析儀，X射線熒光測厚儀CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。

涂鍍層厚度測量和/或成分分析，元素范圍 Ti - U 

可同時進行多達15層元素成分分析 

測量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987



CMI900-鍍層測厚儀 技術參數： 



CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業

A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層

（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。

B ：精確度領先于世界，精確到0。025um (相對與標準片)

C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；

如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。

D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；

E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米  http://www.zhengyee.com