EL缺陷測(cè)試儀,缺陷測(cè)試儀,測(cè)試儀
【設(shè)備用途】
該設(shè)備用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú),如隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。
    EL缺陷測(cè)試儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、核心部件（紅外像機(jī)）采用日本原裝進(jìn)口整件，610萬(wàn)像素； 
2、采用日本進(jìn)口鏡頭，可有效調(diào)節(jié)聚焦位置，大大提高圖片清淅度； 
3、全封閉光路設(shè)計(jì)，確保檢測(cè)儀長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，對(duì)環(huán)境適應(yīng)能力更強(qiáng)； 
4、整機(jī)設(shè)備人性化設(shè)計(jì)，軟件操作簡(jiǎn)捷明了。 
   EL缺陷測(cè)試儀的參數(shù)及說(shuō)明：

   型號(hào)規(guī)格   GELD-610   GELD-140
   最大檢測(cè)尺寸   2000mm x 1400mm
   最高分辨率   3032H x 2016V   1392H x 1040V
   光學(xué)尺寸   1.8 Inches   2/3 Inches
   幀??? 率   3 fps   15fps
   像素尺寸   7.8um x 7.8um   6.45um x 6.45um
   信 噪 比   >56dB
   動(dòng)態(tài)范圍   60dB
   曝光時(shí)間   1Ms - 60Min 1/5000s - 2s
   曝光控制   自動(dòng)、手動(dòng)
公司名稱(chēng)：武漢三工光電設(shè)備制造有限公司

公司地址：湖北武漢東湖新技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)武漢大學(xué)科技園武大園四路

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