CST-50型沖擊試樣缺口投影儀
一、簡(jiǎn)介
1、CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。
? 2、CST-50型沖擊試樣缺口夏比投影儀對(duì)于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45o角且試樣缺口尖端要求R0.25±0.25），故在整個(gè)試驗(yàn)過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口尖端的微小變化（其公差帶只有0.25mm）都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，對(duì)缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。
二、CST-50型沖擊試樣缺口夏比投影儀技術(shù)參數(shù)
1、投影屏直徑：180
2、工作臺(tái)尺寸：方工作臺(tái)：110×125
        圓工作臺(tái)：∮90
        工作臺(tái)玻璃直徑：∮70
3、工作臺(tái)行程：  縱向：10mm  橫向:10mm   升降:12mm
         工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0～360o
4、儀器放大倍率：50×；物鏡放大倍率：2.5×投影物鏡放大倍率
         20×；光源（鹵鎢燈）；12V/100W
5、電源：220V/50Hz；重量:約18kg
6、外型尺寸：515×224×603mm（長(zhǎng)×寬×高）