無(wú)損探傷

    探傷：探測(cè)金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷。常用的探傷方法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷等方法。物理探傷就是不產(chǎn)生化學(xué)變化的情況下進(jìn)行無(wú)損探傷。 

          射線探傷RT適用于材料表面和內(nèi)部不連續(xù)的檢測(cè)，對(duì)體積狀缺陷有很好的檢測(cè)效果。 

超聲波探傷UT主要用于材料內(nèi)部缺陷檢測(cè) 

磁粉探傷MT它是發(fā)展最早的一種無(wú)損檢測(cè)方法，主要用于鐵磁性材料表面和近表面缺陷檢測(cè)。
        滲透探傷PT是除目視檢測(cè)方法外最簡(jiǎn)單的一種檢測(cè)方法，適用于一切非多孔性材料表面開口性缺陷檢測(cè)。 

        超聲波探傷UT和射線探傷RT用于內(nèi)部檢測(cè)。鋼結(jié)構(gòu)多用超聲波，管道多用射線檢測(cè)。 

鍛件用超聲波，鑄件用射線。板材，奧氏體不銹鋼厚大于6mm的用超聲波檢測(cè)。 

磁粉探傷MT和滲透測(cè)試PT用于表層探傷，主要用于2mm之內(nèi)。 

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