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另本公司有售各種無損檢測耗材，理化設備。實力雄厚，技術過硬，產品齊全，質優價廉。歡迎各界朋友前來洽談。顯微圖像分析系統53X-M
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正置式的金相顯微鏡，用落射(同軸反射)照明方式，鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質的組織結構，及對集成電路和微顆粒、線材、纖維、表面噴涂等一些表面現象進行研究分析工作。
立柱式的結構設計，可隨意設定鏡筒的水平及垂直位置，適合各種不同類型的試樣。儀器標準配置的顯微圖像分析系統，可對所觀測的任何物體進行分析,測量,計算等科研實驗工作。
系統還可以選配其他計算機操作系統軟件，如下： 1.金相圖像分析系統；2.顯微圖像測量系統。
正置式的金相顯微鏡，用落射(同軸反射)照明方式，鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質的組織結構，及對集成電路和微顆粒、線材、纖維、表面噴涂等一些表面現象進行研究分析工作。
1.結構： 正置式 三目鏡筒 傾角45° 瞳距和屈光度可調 4物鏡轉換器 2.總放大倍率： 顯微鏡40×- 500× (圖像50 -
4000×) 3.測微目鏡測微尺： 分劃目鏡10× 測微尺0.01/1 mm 4.移動平臺： 移動范圍X-Y：75 × 50
格值0.1 mm 5.鏡筒升降范圍： 90 mm (可作360°旋轉及定位) 6.調焦機構： 同軸粗微動 格值0.002 mm
7.落射照明系統： 帶可變光闌及濾色片 可調光 鹵素燈20W / 6V 偏光裝置 (起偏和檢偏鏡組插片)