永雄檢測儀器有限公司生產的半導體hast老化試驗箱採用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在程度上降低了使用故障率，獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接衝擊產品，以免造成產品局部破壞。門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

半導體hast老化試驗箱技術參數：

1、型號：PCT-25內箱Φ25×40㎝

2、型號：PCT-30內箱Φ30×50㎝

3、型號：PCT-40內箱Φ40×60㎝

4、型號：PCT-50內箱Φ50×70㎝

5、溫度范圍：100℃～132℃

6、濕度范圍：100%RH飽和蒸汽

7、壓力范圍：大氣壓+0～4㎏/cm2

半導體hast老化試驗箱箱體特性：

1、試驗過程自動運轉至完成結束、使用簡便。

2、雙重過熱保護裝置，當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。

3、LED數字型溫度控制器可作精確試驗溫度之設定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。

4、LED數字型定時器，當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗完全。

5、精準的壓力、溫度對照顯示。

6、運轉時流水器自動排出未飽和蒸汽以達到蒸汽質量。

7、試驗過程中水位不足時能自動補充水位之功能，試驗不中斷，確保使用安全。

8、鍋內安全裝置，鍋門若未關緊則機器無法啟動。

9、安全閥，當鍋內壓力超過工作值自動排氣泄壓。

10、門蓋保護，ABS材質制成可防止操作人員接觸燙傷。

11、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

半導體hast老化試驗箱產品特點：

1.採用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在程度上降低了使用故障率。

2.獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接衝擊產品，以免造成產品局部破壞。

3.門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

4.試驗前排冷空氣試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性.

5.超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.

6.水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護.

7.tank耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

8.二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.

9.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕

半導體hast老化試驗箱用途：

半導體hast老化試驗箱廣泛應用于線路板，多層線路板，IC，LCD，磁鐵等產品之密封性能的檢測，測試其制品的耐厭性，氣密性。確保質量是永雄生存的前提和發展的保證。永雄只有提供滿足客戶需求的YOU質產品和服務，才能在激烈競爭中贏得市場，贏得客戶，為公司贏得更大的發展空間。更多永雄檢測儀器半導體hast老化試驗箱相關詳情請聯系我們永雄