yr AQ6317C 回收 安藤 AQ6317C 18926841522
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安藤AQ6317C的是一種先進的廣泛應用，
AQ6317C是先進的光譜分析儀，它應用廣泛，適用于光學儀器中的光源測試、波長損耗特性的測量以及WDM系統的波形分析。
  特別對于C波段和L波段，該裝置有很高的波長精度和波長線性特性，并且能對用于WDM的光學儀器進行測評。裝置所提供的分析功能使操作和擴充變得簡單。與以前的型號相比，AQ6317C的波長精度已提高到±20pm，并且該指標值也是L波段的公稱值。WDM的分析功能和凹口寬度的分析功能已得到進一步改善，并新增加了多通道NF分析功能和光濾波器的分析功能。加上在其它方面的改進例如掃描的加速，該裝置非常容易操作和使用。
  AQ6317C包含了Ando關于光譜分析儀的最新技術-是下一代測試的參考設備。
特點：
1、 高波長精度
  在600至1750nm全波長范圍內，精度可達±0.1nm，在1520-1580nm范圍內，精度高達±0.02nm，在1450到1520nm、1580-1620nm范圍，精度高達±0.04nm。特別適用于WDM器件的高精度波長損耗特性測量。
2、 高波長線性度
  ±0.01nm（C波段）；±0.02nm（S及L波段）
3、 高波長分辨率
  波長分辨率可達15pm甚至更好。
  圖1 DFB激光光譜的測量舉例
4、 適用50GHz WDM信號的寬動態范圍
  在峰值±0.4nm時的動態范圍為70dB，在峰值為±0.2nm時的動態范圍為60dB。
  對于50GHz WDM系統在寬動態范圍內可進行高精度測量。
  圖2動態范圍內進行精確測量的例子
5、 更快的測量速度
  在高精度測量時，比以前型號的測量速度加快2倍以上。
6、 多種分析功能
  對WDM以及其它光學設備（LD，LED，FBG等）的分析功能、可編程功能，光放大器噪聲分析功能、曲線擬合功能、多信道噪聲分析的SSE抑制功能。另外，還增加了模板用于生產質量測試的檢驗功能，外部氣體吸光設備校正波長功能。
7、 同步掃描
  與一個AQ4321A/D可調諧光源連接，通過高速同步掃描（最高速度：10nm/秒）可達到更高波長分辨率和更寬的動態范圍。
8、 寬帶寬、高靈敏度和大功率測量
  -90至+20dBm（1200to1600nm）
  -80至+20dBm（1600to1700nm
  高靈敏度使得對低至-90dBm的光波都能進行測量，覆蓋范圍為1200至1600nm.
  能對光放大器和高功率激光二級管進行直接測量，因為對每一個分辨率達至+20dBm的測量都是可能的。
9、 低偏振相關特性
  偏振相關性被壓低至±0.05dB可精確地對諸如光放大器增益等器件特性進行測量。
10、 高精度
  精度控制在±0.3dB
11、9.4英寸彩色Lcd
12、 能測量脈沖光
13、 有三個單獨的軌跡，存儲器。
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