載入中……
[供應(yīng)]惠州鍍層厚度涂層厚度檢測(cè)
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：深圳
- 產(chǎn)品品牌：第三方檢測(cè)
- 包裝規(guī)格：商務(wù)服務(wù)
- 產(chǎn)品數(shù)量：0
- 計(jì)量單位：1
- 產(chǎn)品單價(jià)：0
- 更新日期：2019-05-31 13:49:46
- 有效期至：2019-07-01
-
-
- 收藏此信息
惠州鍍層厚度涂層厚度檢測(cè)
詳細(xì)信息
鍍層厚度檢測(cè)-聯(lián)系電話：199-2818-1165
安普檢測(cè)中心是專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，出具權(quán)威檢測(cè)報(bào)告（誠(chéng)招同行代理；有意聯(lián)系宋總15018089520）
安普檢測(cè)的服務(wù)優(yōu)勢(shì)在于以更短的檢測(cè)周期和更低的服務(wù)價(jià)格，為客戶節(jié)約成本和周期，幫助客戶快速獲取準(zhǔn)確有效數(shù)據(jù)，并為客戶提供后期技術(shù)服務(wù)支持。安普檢測(cè)作為平臺(tái)化運(yùn)營(yíng)品牌，與國(guó)內(nèi)外多家實(shí)驗(yàn)室建立了良好的合作關(guān)系，旨在為客戶、行業(yè)提供更全面、更優(yōu)
質(zhì)的檢測(cè)咨詢服務(wù)
鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。檢測(cè)方法有1.金相法2.庫(kù)侖法3.X-ray方法。
金相法：
采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)；厚度越大，誤差越小。
庫(kù)侖法：
適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫(kù)侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測(cè)量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測(cè)量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
X-ray方法：
適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。
包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。
本測(cè)量方法可同時(shí)測(cè)量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測(cè)量三層組分的厚度和成分。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1.
GB/T6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法
2.
ASTMB487-85(2007)StandardTestMethodforMeasurementofMetalandOxide
CoatingThicknessbyMicroscopicalExaminationofaCrossSection
3.
ASTMB764-04StandardTestMethodforSimultaneousThicknessandElectrode
Potential
Determination
ofIndividualLayersinMultilayerNickelDeposit(STEPTest)
4.
GB/T4955-1997金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量
5.
GB/T16921-2005金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
6.
ASTMB568-98(2004)StandardTestMethodforMeasurementofCoatingThicknessby
X-RaySpectrometry
同類型其他產(chǎn)品
免責(zé)聲明：所展示的信息由企業(yè)自行提供,內(nèi)容的真實(shí)性、和合法性由發(fā)布企業(yè)負(fù)責(zé),浙江民營(yíng)企業(yè)網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
友情提醒：普通會(huì)員信息未經(jīng)我們?nèi)斯ふJ(rèn)證，為了保障您的利益，建議優(yōu)先選擇浙商通會(huì)員。
浙江民營(yíng)企業(yè)網(wǎng) www.1986688.com 版權(quán)所有 2002-2010