光耦組成的脈沖電路圖原理及應用光耦是由發光二極管和光敏三極管組合起來的器件，發光二極管是把輸入邊的電信號變換成相同規律變化的光，而光脈敏三極管是把光又重新變換成變化規律相同的電信號，因此，光起著媒介的作用。由于光電耦合器抗干擾能力強，容易完成電平匹配和轉移，又不受信號源是否接地的限制。所以應用日益廣泛。一、用光電耦合器組成的多諧振蕩電路用光電耦合器組成的多諧振蕩電路見圖1。當圖1（a）剛接通電源Ec時，由于UF隨C充電而增加，直到UF≈1伏時，發光二極管達到飽和，接著三極管也飽和，輸出Uo≈Ec。三極管飽和后，C放電（由C→F→E1→Er和由C→RF→+Ec→Re兩條路徑放電），uo減小，二極管在C放電到一定程度后就截止，而三極管把儲存電荷全部移走后，接著也截止，uo為零。三極管截止后，電源Ec又對C充電，重復上述過程，得出圖示的尖峰輸出波形，其周期，為（當RF》Re時）：T=C（RF+Re）In2圖1（b）是原理相同的另一種形式電路。
 用光電耦合的多諧振蕩器圖1、用光電耦合的多諧振蕩器二、用光電耦合器組成的雙穩態電路用光電耦合器組碭雙穩態電路如圖2所示。電路接通電源后的穩態是BG截止，輸出高電位。在觸發正脈沖作用下，ib增加使BG進入放大狀態，形成ib↑→if↑→ib↑↑，結果BG截止，這種電路比普通的觸發順具有更高的抗干擾能力。若設BG的極限電流Ic=6毫安，則R2=取為：R2≥(13-1)/(6×)=24歐限流電阻R1可按下式計算R1≥(E-IbmRce2min)/Ibm式中：Ibm是晶體管的最大基極電流，Rce2min是光敏三極管集射間的最小電阻值。
 用光電耦合的雙穩態電路圖2、用光電耦合的雙穩態電路三、用光電耦合器組成的整形電路由于用光電耦合器組成的脈沖耦合電路，其前后沿時間都比較大，因此在耦合器后面接一級晶體管的整形放大電路。見表一列出幾種整形電路的應用實例。
 用光電耦合器組成的斬波電路四、用光電耦合器組成的斬波電路用光電耦合器組成的斬皮電路見表二
 用光電耦合器組成的斬皮電路
如何確定光耦合器性能的好壞確定光耦合器的好壞首先確定光耦合器輸大端發光二極管的好壞。如圖1所示，將萬用表置于Rx100擋或Rx1k擋，黑表筆接發光二極管的正極，紅表筆接發光二極管的負極，此時萬用表顯示電阻值應為幾百歐。2kΩ左右，然后對調表筆再測試，阻值應接近∞，表明輸入端的發光二極管是好的。如出現阻值與上述阻值相差甚遠，表明發光二極管性能不良或是已經損壞。
 測試光耦合器的輸入端圖1測試光耦合器的輸入端測試光耦合器輸出端的光敏器件，如光敏器件是光敏晶體管，將萬用表置于Rx1k擋或Rx1O0擋，按圖2所示的接好，黑表筆接光敏晶體管的集電極，紅表筆接光敏晶體管的發射極，萬用表的顯示應為接近幻，交換表筆，阻值仍為∞，表明輸出端的光敏晶體管是好的。如果測試的阻值與上述相差太多表明光敏晶體管性能不良或損壞。
 測試光耦合器的輸出端圖2測試光耦合器的輸出端如果輸出端不采用光敏晶體管的其他類型光耦合器，應根據不同結構的光敏器件進行判斷。