電鍍層膜厚測試儀在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業,X-射線熒光鍍層厚度測量儀能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。

電鍍層膜厚分析儀可變焦距控制功能和固定焦距控制功能  
計算機系統配置  IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機  
分析應用軟件  操作系統：Windows XP中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包  
－測厚范圍  可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。  
－基本分析功能  采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。  
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)  
可檢測元素范圍：CL17 – U92 

電鍍層膜厚分析儀樣品臺選擇： 
采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為： 
一：手動樣品臺 
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 

二：自動樣品臺 
1  程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 
2  超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

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