無損測(cè)試是在不損傷被測(cè)材料的情況下，檢查材料的內(nèi)在或表面缺陷，或測(cè)定材料的某些物理量、性能、組織狀態(tài)等的檢測(cè)技術(shù)。廣泛用于金屬材料、非金屬材料、復(fù)合材料及其制品以及一些電子元器件的檢測(cè)。常用的無損測(cè)試技術(shù)有：①射線探傷。利用X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同，檢測(cè)被檢物的缺陷。若將受到不同程度吸收的射線投射到X射線膠片上 ，經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片。如用熒光屏代替膠片，可直接觀察被檢物體的內(nèi)部情況。②超聲檢測(cè)。利用物體自身或缺陷的聲學(xué)特性對(duì)超聲波傳播的影響，來檢測(cè)物體的缺陷或某些物理特性。在超聲檢測(cè)中常用的超聲頻率為0.5～5兆赫（MHz）。最常用的超聲檢測(cè)是脈沖探傷。③聲發(fā)射檢測(cè)。通過接收和分析材料的聲發(fā)射信號(hào)來評(píng)定材料的性能或結(jié)構(gòu)完整性。材料中因裂縫擴(kuò)展、塑性變形或相變等引起應(yīng)變能快速釋放而產(chǎn)生應(yīng)力波的現(xiàn)象稱為聲發(fā)射。材料在外部因素作用下產(chǎn)生的聲發(fā)射，被聲傳感器接收轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，經(jīng)放大后送至信號(hào)處理器，從而測(cè)量出聲發(fā)射信號(hào)的各種特征參數(shù)。④滲透探傷。利用某些液體對(duì)狹窄縫隙的滲透性來探測(cè)表面缺陷。常用的滲透液為含有有色染料或熒光的液體。⑤磁粉探傷。通過磁粉在物體缺陷附近漏磁場中的堆積來檢測(cè)物體表面或近表面處的缺陷，被檢測(cè)物體必須具有鐵磁性。此外，中子射線照相法、激光全息照相法、超聲全息照相法、紅外檢測(cè)、微波檢測(cè)等無損測(cè)試新技術(shù)也得到了發(fā)展和應(yīng)用。

taier泰爾檢測(cè)是一家主要從事工業(yè)產(chǎn)品與消費(fèi)電子用品的獨(dú)立第三方認(rèn)證檢測(cè)機(jī)構(gòu)，已取得中國CNAS國家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可；取得中國科學(xué)研究院（廣州分研究院）最佳實(shí)驗(yàn)室合作關(guān)系，并由此獲得國際實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可組織(Internatianal  Laboratory  accreditation  Coporation  ILAC)的認(rèn)可，檢測(cè)報(bào)告具有國際公信力。

泰爾電磁/安規(guī)認(rèn)證項(xiàng)目

歐洲市場：CE認(rèn)證，CE-LVD， GS認(rèn)證， TUV-mark認(rèn)證， CB認(rèn)證， Nordic(Nemko， Semko， Fimko， Demko)， BSI， GOST， OVE， IMQ， KEMA及其它歐洲國家認(rèn)證標(biāo)志；

亞洲市場：EK-mark， MIC， PSE-mark(菱形， 圓形)，Telec認(rèn)證 PSB認(rèn)證， SASO認(rèn)證，

CCC認(rèn)證， CQC認(rèn)證， BSMI認(rèn)證，KUCAS認(rèn)證等；

北美市場：UL+CUL， FDA， CEC，cTUVus， cETLus， cCSAus等；

南美市場：IRAM認(rèn)證，NOM認(rèn)證等；

EMC電磁兼容測(cè)試

LVD安全測(cè)試

可靠性測(cè)試

電子電氣有害物質(zhì)檢測(cè)

玩具檢測(cè)

電池測(cè)試

化學(xué)物質(zhì)檢測(cè)

能效檢測(cè)

電子產(chǎn)品失效分析

破壞性物理分析

PCB及組件檢測(cè)分析

材料理化分析與無損推測(cè)

電子輔料檢測(cè)

司法鑒定

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