反射式膜厚測(cè)量?jī)xFE-3000
小型?低價(jià)格！簡(jiǎn)單操作”非接觸”膜厚量測(cè)儀FE-300！

膜厚量測(cè)儀FE-300的特點(diǎn)
測(cè)試范圍涵蓋薄膜到厚膜
基于絕對(duì)反射率光譜分析膜厚
小型?低價(jià)，精度高
無(wú)復(fù)雜設(shè)定，操作簡(jiǎn)單，短時(shí)間內(nèi)即可上手
外觀新穎，操作性提高
非線性最小二乘法，實(shí)現(xiàn)光學(xué)常數(shù)解析（n：折射率、k：消光系數(shù)）

對(duì)應(yīng)膜種
○ 多層膜 ○ 折射率傾斜
○ 非干涉膜 ○ 超晶格結(jié)構(gòu)

用途
○ 光學(xué)薄膜（ARfilm、ITO等）
○ FPD相關(guān)（ITO、PI、PC、CF等）



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