博曼膜厚測試儀，鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-射線鍍層測厚儀，可滿足所有鍍層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層測量儀，實現了超微小面積，高精度無損測量?？蓽y量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。可分析單層鍍層，雙層鍍層，三層鍍層，合金鍍層.可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度，鍍銅藥水的銅離子濃度等)，簡單的核對方式，無需購買標準藥液. 可測元素范圍：鈦(Ti) –鈾(U)可測量厚度范圍：原子序22-92，0.1-0.8μm ，可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標.
BOWMAN博曼膜厚測試儀的主要特點：
        （1）無損分析：無需樣品制備
        （2）經行業認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益
        （3）操作簡單，只需要簡單的培訓
        （4）分析只需三步驟
        （5）杰出的分析準確性和精確性
        （6）在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
        （7）使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
博曼X射線膜厚測試儀的原理是物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
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