綜合環(huán)境試驗(yàn)是在經(jīng)濟(jì)和技術(shù)條件允許的情況下，盡可能做到在試臉箱(室)內(nèi)再現(xiàn)產(chǎn)品在實(shí)際工作條件下所經(jīng)歷.鉤各種環(huán)境及變化情況。因此，通過(guò)試驗(yàn)后的試件在實(shí)際工作中不再發(fā)生或很少發(fā)生新的失效，從而達(dá)到最高的可靠性。

  對(duì)于電子產(chǎn)品，單純的溫度試驗(yàn)（ruihongshiye）主要以熱應(yīng)力的形式造成材料或機(jī)械的損壞，也可因極端的溫度而使靈敏件直接損壞單純的濕度試驗(yàn)僅能使部件產(chǎn)生腐蝕和電介質(zhì)變質(zhì)若只有低氣壓條件，則只造成機(jī)械變形，放電和冷焊等效應(yīng)振動(dòng)、沖擊與聲學(xué)作用，除了以機(jī)械應(yīng)力出現(xiàn)的拉伸、壓縮和疲勞等外，還有因零件對(duì)加速度、位移或頻率放感而造成失效。但如果將這幾種環(huán)境條件綜合起來(lái)，則除了出現(xiàn)上述的失效形式外，還將發(fā)生一些新的失效形式，也可使原有的失效形式加速。


可程式高低溫試驗(yàn)箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)，鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。
指產(chǎn)品工作室能耐受和(或)能達(dá)到的極限溫度。通常含有能控制恒定的概念，應(yīng)該是可以相對(duì)長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行的極值。一般溫度范圍包括極限高溫和極限低溫。
這個(gè)指標(biāo)也有叫溫度穩(wěn)定度，控制溫度穩(wěn)定后，在給定任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間內(nèi)任一點(diǎn)的zui高和zui低溫度之差。這里有個(gè)小小的區(qū)別“工作空間”并不是“工作室”，是大約工作室去掉離箱壁各自邊長(zhǎng)的1/10的一個(gè)空間。這個(gè)指標(biāo)考核產(chǎn)品的控制技術(shù)。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤1℃或±0.5℃。
舊標(biāo)準(zhǔn)稱均勻度，新標(biāo)準(zhǔn)稱梯度。溫度穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間內(nèi)任意兩點(diǎn)的溫度平均值之差的zui大值。這個(gè)指標(biāo)比下面的溫度偏差指標(biāo)更可以考核產(chǎn)品的核心技術(shù)，因此好多公司的樣本及方案刻意隱藏此項(xiàng)。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤2℃
溫度穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度平均值之差。雖然新舊標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此指標(biāo)的定義和稱呼相同，但檢測(cè)已有所改變，新標(biāo)準(zhǔn)更實(shí)際，更苛刻一點(diǎn)，但考核時(shí)間短點(diǎn)。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為±2℃，200℃以上可按實(shí)際使用溫度攝氏度(℃)±2%要求。