儀器簡介：
Staib Instruments RHEED--反射高能電子衍射儀  

    Staib Instruments GmbH成立于1987年，公司位于德國南部城市慕尼黑附近。是一家專業研發和生產先進表面分析設備的公司，公司有眾多在儀器設備和電子技術方面擁有豐富經驗的研發人員，開發了許多的世界一流表面科學分析儀器。 

應用 
Staib instruments RHEED系統可以實時監控表面結構，所以可以被廣泛應用于以下領域： 

? 結晶學(Crystallography) 
? 超導體(Superconductors) 
? 分子束外延生長Molecular beam epitaxy (MBE) 
? 化學氣相沉積Chemical vapor deposition 
? 激光脈沖沉積（PLD）、有機分子化學氣相沉積(MoCVD) 
? 冶金(Metallurgy) 
? 薄膜制備(Thin film deposition) 
? 涂層(Coatings) 

其他產品： 

離子誘導電子發射顯微鏡 IEEM 

- 多維、高分辨單-離子核顯微分析技術 
- 可以對半導體和微電子設備中的電荷聚集和單離子誘導效應進行顯微成像 
- 可以對半導體中載流子遷移和載流子壽命進行顯微成像 
- 使用便宜、微聚焦的離子束或是alpha粒子作為源



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