供應X射線熒光測厚儀X-ray測厚儀X射線測厚儀介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。



供應X射線熒光測厚儀X-ray測厚儀X射線測厚儀主要特點



樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 

可檢測元素范圍：Ti22 – U92 

可同時測定5層/15種元素 

精度高、穩定性好 

強大的數據統計、處理功能 

測量范圍寬 

NIST認證的標準片 

全球服務及支持



供應X射線熒光測厚儀X-ray測厚儀X射線測厚儀技術參數



主要規格 規格描述 

X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統 

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 

裝備有安全防射線光閘 

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 

準直器程控交換系統 最多可同時裝配6種規格的準直器 

多種規格尺寸準直器任選： 

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等 

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 



測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 

在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) 

樣品室 CMI900 CMI950 

－樣品室結構 開槽式樣品室 開閉式樣品室 

－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm 

－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm 

還有5種規格任選